GB/T 17626.1-2006 電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論為GB/T 17626 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)系列標(biāo)準(zhǔn)的第一部分。

      GB/T 17626.1-2006  電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論涵蓋了電氣和電子設(shè)備（裝置和系統(tǒng)）在其電磁環(huán)境中的試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)。
      在過去，機(jī)電裝置和系統(tǒng)對(duì)電磁騷擾（即傳導(dǎo)、輻射電磁騷擾和靜電放電）并不敏感。目前所使用的電子元件和設(shè)備對(duì)這些騷擾則要敏感的多，尤其是對(duì)“高頻”和“瞬態(tài)”現(xiàn)象。由于電子元件和設(shè)備以驚人的速度投入運(yùn)行，電的和電磁的騷擾引起的嚴(yán)重誤操作、損壞等危險(xiǎn)也隨之增加。
      有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（或用戶和設(shè)備制造商）需負(fù)責(zé)從GB/T 17626系列標(biāo)準(zhǔn)中選擇適當(dāng)?shù)目垢蓴_度試驗(yàn)項(xiàng)目及設(shè)備適用的試驗(yàn)等級(jí)。但是為了提高這項(xiàng)工作的協(xié)調(diào)和標(biāo)準(zhǔn)化，專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)或用戶、制造商應(yīng)考慮GB/T 17626.1-2006  電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論所給出的建議。
      GB/T 17626.1-2006  電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論等同采用IEC61000-4-1（2000）《電磁兼容第四部分：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 第一部分：抗擾度試驗(yàn)總論》。
      GB/T 17626.1-2006  電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論自實(shí)施之日起代替GB/T 17626.1-1998《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論》。